Photonics – Chinese

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ohmic接触下单纳米线器件的I-V特性曲线非线性

    • outer rong
      Subscriber

      老师您好,我在仿真硅纳米线光电导器件的I-V特性,两端Al电极,中间是Si纳米线,开启了强制ohmic接触,然后做了电压扫描(-1V-1V),发现I-V曲线并不是线性的,这个如何解释呢?此外,在仿真中还存在一个问题,在给定电压(1V)下,扫描n型掺杂浓度(1e15-1e18 cm-3),发现光电流在浅掺杂浓度(5e15 cm-3)下存在一个拐点,超过这个浓度,光电流下降。(光电流计算=光态电流-暗电流)

    • outer rong
      Subscriber

      掺杂浓度为n型1e15 cm-3

    • Guilin Sun
      Ansys Employee

      I-V曲线不一定就是线性的啊?你看看教科书,至少还有饱和呢。线性区域一般只有一个范围,通常把工作范围设置为此,以得到线性输出结果。

      至于拐点的问题(包括非线性),可能涉及两个材料的特性。你将电极换几种材料测试看看,或者不考虑半导体内复合效应,甚至可能是硅线宽度厚度有限效应(比如你用2D仿真将硅设置为无限宽厚)。具体物理原因需要测试。

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