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[SXSi]

老师好！我在对圆台结构（truncated cone，如图一）进行研究时发现一个问题：圆台有上底面和下底面，如果要同时对这两个底面的半径进行参数扫描，也就是构建嵌套扫描，那么在参数扫描过程中将会出现上底面比下底面更大的情况，如图二所示，请问该如何解决这一问题呢？

[Guilin Sun]

确实有此类问题，因为扫描是按指定的参数范围进行的，如果在分析组里面设置判断，即上半径下半径相等或者大于某个数时不扫描会导致扫描结果无法读出。所以只能事后处理，或者设置直接此判断，整个扫描用脚本。

请测试看看。

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