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[hjiangba]

最近，我使用 FDTD 来模拟一种类似于液晶各向异性材料的透射和反射光谱。之前已经用椭偏仪测量了它的复折射率（在 FDTD 的材料中用 nxx、nyy、nzz 设置相关数据），我把测量的数据直接导入 FDTD 中，但 FDTD 中的透射和反射谱在 500-600nm 处显示出明显的差异（如附图 1 所示）。为了获得类似的曲线，我调整了 FDTD 中每个波长的 CRI，但是在某些波段当我将折射率从 2.3 更改为 2.29 来获得较低的反射，但结果显示反射率从 0.2 急剧下降到 0.02，这显然是不可能的。之后我通过改变 T/R 监视器的位置来解决，反射率又恢复到了0.2左右，但是当我以+5nm步长进入下一个波长时，反射率又重新变成了0.02，这是什么原因呢？我尝试改变光源位置和入射方向，衬底折射率，PML类型都无效，急救。

模型是基于官方案例的超表面元原子模型，我把原来的纳米柱改成了和仿真区域相等的145nm厚的长方体薄膜（如附图 2 所示），TR用S参数分析组得到，边界条件xy方向用周期性，z用PML。

[Guilin Sun]

你测量的 nxx、nyy、nzz是单波长还是宽谱？ 单波长的话很难说，如果是宽谱，材料拟合曲线如何？

另外一个问题，你需要将中间的那个液晶层在XY平面延申到周期边界之外。

不要试图随便修改折射率，你看看仅仅改了0.01结果就差一个量级，因此你还要检查你折射率测量的结果，还有三个主轴方向是否与仿真一致。

不知道“但是当我以+5nm步长进入下一个波长时，反射率又重新变成了0.02，”是怎么做的，难道你是按波长扫描进行的？正入射时不要这样扫描波长，因为网格尺寸与波长有关。

你仿真的R+T只有0.5左右，其它的你看看都损失到哪里了，是吸收了吗？你可以增加仿真区长度，反射监视器反射区，透镜后面，并且要离开光源至少几个网格。你现在的是仿真光源前面，它监测的不是反射率，需要进一步操作，参见：https://optics.ansys.com/hc/en-us/articles/360034915753-Tips-for-accurately-measuring-reflection-in-an-FDTD-simulation