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[9181040g0835]

在案例简化显微成像 – Ansys Optics中，microscopy_imaging.lsf执行了farfieldvector3d函数来获取远场投影后的电场强度E，然后最后再通过chirp-z变换来进行成像，但是案例光学缺陷测量（直接仿真） – Ansys Optics中的成像函数却采用了farfield3d函数直接进行成像。想请问一下老师这两种方式有什么区别，在进行显微成像的过程中该如何选择呢？

[Guilin Sun]

farfield3d函数结果是强度Projects a given power or field profile monitor or a rectilinear dataset to the far field in a 3D simulation. The electric field intensity |E| ²  is returned.

而farfieldvector3d函数结果是场The function farfieldvector3d is similar to farfield3d, but it returns the complex electric fields, rather than field intensity. 

关键看你想要什么结果，你再阅读一下两个例子的脚本。