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[3508911812]

孙老师，您好，我想问如果针对周期结构进行显微成像仿真，我看到官网上面显微成像的代码里远场的Ex，Ey，Ez是通过farfieldvector函数后pinch得到的，之后再通过czt变换得到像面上的光强分布，那如果针对周期结构的显微成像，farfield函数是不适用的，那官网上显微成像的代码是否只需要把里面的farfield函数变成grating函数获取相应的Ex，Ey，Ez后之后同样通过czt变换后便得到像面上的光强分布，这样的替换是否正确或者合理？

[Guilin Sun]

很好的问题！

网上那个周期结构成像的例子需要修正，把里面的farfield函数变成grating函数。

[3508911812]

好的，谢谢老师，我对周期结构进行成像的将farfield函数替换成grating函数后，发现grating函数里的远场量中的采样数不能自定义，不像farfield函数里有 farfield3d("mname",f, na, nb, illumination, periodsa, periodsb, index, direction)中na和nb这两个参数来自定义远场量的采样数，grating函数好像是根据波长和仿真区域的面积共同决定的远场量的采样数的，所以想问下老师还有什么办法能够实现grating函数输出的远场量中自定义采样数的？

[Guilin Sun]

不是的，grating函数得到的是衍射级衍射角，没有必要自己定义远场量的采样数。

此外，因为此时得到的是衍射后的平面波，因此计算成像时不再使用CZT，而是将平面波折算到像面，不同衍射级的结果相干叠加。你需要找类似例子看看里面是怎么将不同衍射级平面波叠加的。

[3508911812]

那孙老师，为什么grating函数得到衍射后的平面波后计算成像时，就不再使用CZT，相比于farfield函数它计算成像的时候为什么之后就可以用czt呢。这两者不都是计算了远场量吗，只是针对的仿真结构和条件是否为周期性不同而采取不同的函数，这两个函数有什么区别呢