Photonics – Chinese

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老师您好,在监测周期性结构反射率的时候为什么仿真无法得到收敛

    • 981424582
      Subscriber
    • Guilin Sun
      Ansys Employee
      我估计最大的可能就是谐振太强,这个结构没有基底或者背景材料的话,可能谐振太强,需要大大增加仿真时间。
    • 981424582
      Subscriber

      我估计最大的可能就是谐振太强,这个结构没有基底或者背景材料的话,可能谐振太强,需要大大增加仿真时间。

      /forum/discussion/comment/136821#Comment_136821

      老师您好,首先谢谢您的解答。然后通过您解答的帮助,我在加过Si衬底后,能够收敛到10的-4,但还是无法收敛到10的-5。同时还有个疑问是衬底为Si和SiO2这两种材料是,得到的反射率差别挺大的,请问这是由材料自身的性质引起的吗?
    • Guilin Sun
      Ansys Employee
      差别大很正常,理论上也该如此。以薄膜型结构为例,你可以用stackrt 解析计算一下:Ansys Insight: stackrt 简例说明及其适用范围

      你的器件有微纳结构,请查看远场,看看有无高级衍射,大衍射角例如大于70度就需要用steep angle PML。

      另外,请将结构变长,延申到周期边界之外。
    • tiach329
      Subscriber
      孙老师,你好!

      我也用FDTD仿真了这种几层的薄膜结构,想看下中间某一层的电场分布,可是仿真出来的电场图形没有任何变化,所有区域都是均匀的电场分布,想问下FDTD能计算这种薄膜结构的某一层的电场分布吗?如果可以的话,需要注意什么问题呢?
    • tiach329
      Subscriber
      如下图




    • Guilin Sun
      Ansys Employee
      这个看起来没毛病,是这个面上强度或者场的绝对值是均匀的,你查看实部或者虚部,就会看到不一样的结果。参见
      Ansys Insight: 有关Visualizer的相关问题
      其它常见问题在这里 /forum/discussion/27211/如何有效地查看中文ansys-insight-faq-常见问题帖子#latest
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    • tiach329
      Subscriber

      这个看起来没毛病,是这个面上强度或者场的绝对值是均匀的,你查看实部或者虚部,就会看到不一样的结果。参见

      Ansys Insight: 有关Visualizer的相关问题

      其它常见问题在这里 /forum/discussion/27211/如何有效地查看中文ansys-insight-faq-常见问题帖子#latest

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      /forum/discussion/comment/158651#Comment_158651

      看实部也是一样的,我现在想知道用FDTD能看这种薄膜的场分布吗?
    • Guilin Sun
      Ansys Employee
      不大可能完全一样,幅度有改变吗?FDTD能仿真就可以看。你可以用时间监视器看。当然,如果波长远大于厚度,也是有可能出现这种情况的。膜层结构请用解析算法stackrt 仿真。

      不过这个不是本贴题目的问题,再有不明的地方请发新帖。
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