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May 23, 2024 at 1:46 am
Liucun Li
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感谢回复。
最后的结果都是从interconnect仿真得来的。比如最后一张图显示的是在不同失谐下仿真得到的未归一化的S21曲线,零频(低频)就是横坐标等于0的附近的值(低频响应)。
在Δλ从-1.5 nm增大到0的途中,整条曲线应该都缓慢上升(不过在接近0时会因透射太低整体下降),但是在大约Δλ=0.5 nm时低频响应突然变得很低(如最后一张图中红圈所示)。我想知道其原因。因为按理说低频响应,或者直流响应应该只与加了偏压时微环的透射谱有关,而不应该出现这样的非谐振峰处的dip。我想知道是不是与仿真的设置有关。
它上面的色图显示的是同一结果,只不过换成了三维强度图的形式,可以更清楚地发现在Δλ=±0.5 nm处有一个dip。其左边是对应的透射谱,共振点位于Δλ=0处。
不知道有没有表述清楚,麻烦老师们帮我看看,谢谢!