Reply To: EME和FDE仿真 taper端面耦合 问题

[Guilin Sun]

确实存在这个问题。

你可以将左侧Port的模式作为输入而不是计算出模式，因此可以不把高折射率材料包含在仿真区。

另外就是仅包含高折射率材料越少越好。因为不像FDE那样可以选起始折射率，因此无法不从最高有效折射率算起。有的时候即使选择了起始折射率，也不一定就不包含Si模式，因为FDE实际是从一个范围找有效折射率。

还有一个办法就是将左侧和右侧1个CELL用FDTD仿真，把这个右侧Cell的监视器数据作为Port模式输入，仅用EME仿真右侧Tayper部分。或者用FDTD仿真得到右侧Cell不同的模式S参数，再用EME仿真单个模式输入时的S参数，最后将不同模式输入的结果用仿真的S参数做加权平均，这个方法需要更多的数学/物理分析。