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给位老师大家好，我现在出现的问题是：使用“sweep”功能进行顶层薄膜厚度扫描、获得反射率时，通过sweep得到的结果与直接改变膜层厚度再进行模拟得到的结果不一样（sweep的结果明显不合理，膜层厚度变化时反射率基本上没变化，而直接模拟的结果在膜层比较薄时就很正常的显示基底的反射特征），sweep的设置如下：

[sidi.lu]

您好，按可以参考Creating parameter sweeps using a script – Ansys Optics 进行设置。

您可以具体对比一下数据，按照您的设置，第一个文件zmax 为0.01，第二个文件zmax为0.12，分别查看结果与您手动输入0.01与0.12的结果是否一致。

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感谢您的回复，我使用“animate”功能后发现了是“sweep”参数设置错误，之前的扫描过程顶层厚度并没有按预期中变化。