エレクトロニクスデバイスの長期信頼性（寿命）試験は一般的に長期間を要するため、短期間で設計改善・市場投入するためには設計上流で正確な寿命予測を行い、設計対策を施すことが重要となります。 Ansys Sherlockは、信頼性物理学/故障物理学（PoF）を基にECADデータから寿命予測を高速かつ正確に行う、唯一のソフトウェアです。Ansys Mechanicalとの連携を中心とした活用をご紹介致します。

レベル：
初級

こんな人に受講をおすすめ：

• 設計プロセスの初期段階で製品の故障を予測したい方
• 製品寿命を予測したい方
• 市場不良による設計手戻り、再製造コストを削減したい方
• 納品された電子基板の故障信頼性を確認したい方
• 構造解析用のモデル作成工数を削減したい方
• ノウハウや経験値を基に設計や故障対策しているが、理にかなっているか・故障メカニズムに根ざした対策になっているか否か不明なまま設計している方
• 故障物理を根拠とした故障対策を、電子基板設計に反映したい方
  （ここでの「故障物理」とは、例えば「この電解コンデンサはどのようなメカニズムで故障するのか」を数式化したもの等を意味しています。）